晶圆级封装外观检测系统
激光式IC引脚检测设备
QFP和SOP的IC引脚扫描 ※
※QFP=Quad flat Package、SOP=Small Outline Package
面向食品・健康食品的锭剂外观检测系统
锭剂外观检测系统
Vial外观检测系统 ※
※ Vial=冷冻干燥注射剂的品牌名
由成套全自动化系统对各种带引脚的电子部件进行连续供给、检测及收纳等。
检测工件,把规格外品分类排出并装入收纳盒。
可对大中小型部件进行高速、高精度地检测。
对搬送来的晶圆进行特性检测并按等级进行分类收纳。
※WL-CSP=Wafer-Level Chip Size Package
辨别IC是否合格,并分别装入不同的料管,且对不同料管进行分类收纳。
以每颗3.5秒的速度从切割好的晶圆上提取芯片至测试载台。
还可以对合格品・不合格品进行分类排出。
把芯片贴装到涂有焊锡的引线框架上。
※BGA=Ball Grid Array
检测4方形芯片的外观及标记状态,
并对合格品进行分类。
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